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手持式光譜儀手持式合金分析儀合金分析儀
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致發(fā)光光譜儀附件

型號：GemPL-405
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產(chǎn)品說明、技術參數(shù)及配置

GemPL-405基于光致發(fā)光光譜原理，通過與GemUV-100聯(lián)用，進行熒光光譜測量。熒光光譜作為吸收光譜的重要補充，可對la、lla型鉆石、CVD合成鉆石、HTHP合成鉆石、Ib型黃色鉆石、彩鉆、珍珠 （淡水/海水，天然/染色）、尖晶石、琥珀等進行快速、無損檢測。

性能特點
快速便捷聯(lián)用
只需將光纖和USB數(shù)據(jù)線連接到GemUV-100主機，即可對光致發(fā)光附件的完全控制，無需另配電腦或切換軟件，激光功率和光譜測顯過程完全軟件控制，無需手動操作。
微區(qū)光譜測量
光致發(fā)光附件基于無限遠光學顯微鏡光路設計，同軸光照明，光譜與成像共焦，輕松實現(xiàn)微區(qū)測量。
自由切換倍率
通過物鏡轉(zhuǎn)換盤，手動切換物鏡，根據(jù)不同樣品特征，選擇合適的倍率進行測量，有效提升該附件的適用范圍及性能表現(xiàn)。

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